產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
上海鑄金分析儀器有限公司可提供多系列的涂層測厚儀、鍍層厚度檢測儀等形貌測量儀器。x熒光鍍層測厚儀器Ux-720是具有較高精度的國產(chǎn)x熒光測厚儀。x熒光鍍層測厚儀器Ux-720
詳情介紹：
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720產(chǎn)品功能：
1. Ux-720國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果佳。
2. 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
3. Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
4. X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
5. Ux-720鍍層測厚儀采用了FlexFp -Multi技術(shù)，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果可靠。
6. 樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動，輻射**高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
7. 軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專用3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720標(biāo)準(zhǔn)配件：
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機(jī)主機(jī)：品牌+雙核
顯示屏：19寸液晶
打印機(jī)：噴墨打印機(jī)
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720可選配件：
可升級為SDD探測器
1. Ux-720國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果佳。
2. 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
3. Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
4. X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
5. Ux-720鍍層測厚儀采用了FlexFp -Multi技術(shù)，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果可靠。
6. 樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動，輻射**高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
7. 軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專用3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720標(biāo)準(zhǔn)配件：
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機(jī)主機(jī)：品牌+雙核
顯示屏：19寸液晶
打印機(jī)：噴墨打印機(jī)
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720可選配件：
可升級為SDD探測器
